【武汉造】高精度数字源表、半导体电性能测试仪表——武汉普赛斯电子技术有限公司

武汉普赛斯电子技术有限公司专业研究和开发光通信、半导体芯片与器件测试的专业智能装备。产品覆盖光通信和半导体领域的晶圆到器件生产过程中的每个环节，包括CHIP、BAR条器件、TO器件、OSA器件、收发模块等。产品对标国外企业的产品，模拟现实应用环境，为国内光通信与半导体器件的设计制造与封测龙头企业及其众多的上下游企业提供高端测试装备。

公司在光通信器件、半导体产线测试设备领域深耕十余年，产品旨在替代进口测试设备，填补国内空白，提升客户产品的可制造性、提高测试效率、实现生产制造智能化。现已发展成为国内本领域产品数量最多，覆盖产业链测试对象最广的公司。 

产品展示：

高精度数字源表 

“源表”又被称为源测量单元（SMU），能同时精确提供和测量电压和/或电流，具体非常广的电压及电流范围，支持四象限工作。具有数字万用表、双极性电压源、双极性电流源、电子负载及脉冲发生器的功能，普赛斯源表最大输出及测量电压可达300V，最小输出及测量电流可达100pA。 

半导体电性能测试仪表

半导体参数分析仪（器件分析仪）是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）、脉冲电流-电压（pulse IV）和电容电压测量（C-V），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。半导体参数测试是确定半导体器件特征及其制造过程的一项基础测量。

半导体参数分析仪的主要测量元器件是源测量单元（SMU）及电容电压测量单元（CVU）。SMU 是一种将电压/电流源功能和电压/电流表功能结合于单一模块中的测量模块。由于该参数分析仪将电源和测量电路紧密集成，所以相比使用多种独立仪器进行相同测量来说，可以提供更高的精度、分辨率以及更小的测量误差。电容电压测量单元（CVU）包括CV（电容-电压）测量、C-f（电容-频率）测量及C-t（电容-时间）测量，测试频率一般要求1kHz~5MHz。

普赛斯进过多年研发，推出了电压高至3000V、电流高至4000A的半导体测试解决方案。

详询：http://www.whprecise.com/